sem1
Sem microscopy

Dbając o najwyższy standard naszych usług, oferujemy Państwu analizę materiałową za pomocą skaningowej mikroskopii elektronowej (SEM). Dzięki mikroskopowi PRO X z firmy Phenom World jesteśmy w stanie zmierzyć większość typów materiałów (również bez konieczności pokrywania próbek warstwą metaliczną). W naszej ofercie jest zarówno wykonywanie obrazowania struktur jak i analiza ich składu chemicznego za pomocą detektora EDS*.

  • powiększenie przy użyciu obrazowania elektronowego do 100 000x**
  • powiększenie przy użyciu obrazowania optycznego 20-135x
  • maksymalna rozdzielczość 17 nm**
  • różne napięcia przyspieszające (5, 10, 15 kV)
  • detektor EDS
  • formaty obrazów: JPEG, TIFF, BMP

*zgodnie z ograniczeniem detektora EDS
**w zależności od przygotowania próbki

W razie dalszych pytań prosimy o kontakt sales@inphotech.pl